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度
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个产品,
做到极致认真
每一组数据
新 闻 动 态
NEWS
本指南整合半导体行业核心工艺需求与设备技术规范,覆盖芯片封装、基板除潮等关键场景,确保防氧化与洁净度达标。
?氮气控制要求?
氧气浓度:需全程维持≤10000ppm(黄光工艺胶水固化≤20ppm)?
氮气纯度:≥99.999%
?温控系统?
温度范围:
芯片封装:150-250℃(升温斜率≤5℃/min防热冲击)?
基板除潮:80-120℃(恒温时间0.5-8小时)?
均匀度:±3℃(200℃工况)?
?洁净度标准?
Class 100级无尘环境
?预处理阶段?
设备检查:确认密封条完整性、氮气管道无泄漏?
空载测试:设置250℃空烤45分钟,验证温控稳定性??装载与充氮?
样品摆放:
? 芯片托盘间距≥5cm(保证热风循环均匀)?
? 金属框架单层平铺(防止叠压导致氧化色差)?
氮气置换:
? 先充氮5分钟(流量20-300L/min)至氧气浓度<1000ppm?
? 进入烘烤后维持流量20-150L/min?烘烤程序设置(参考工艺)?
1. 升温阶段:25℃→150℃(斜率3℃/min)
2. 恒温阶段:150℃±0.5℃维持2小时
3. 降温阶段:自然冷却至80℃以下开门(禁止强制风冷)?:ml-citation{ref="2,6" data="citationList"}
?芯片封装防氧化?
高敏感芯片:采用分段充氮(预热阶段流量提升至15L/min)?
银胶固化:250℃恒温期间氧浓度监控频率提升至每1分钟/次?
?基板烘烤除潮?
湿度控制:烘烤后基板含水率需<50ppm(搭配在线湿度传感器)?
多层基板:增加热风循环风速至2.5m/s(穿透性加热)?
?常见缺陷对策?问题现象原因分析解决方案
框架发黄/发紫 | 氧气浓度超标 | 检查氮气供应管路密封性? |
芯片表面颗粒物粘附 | 洁净度未达标 | 更换HEPA过滤器? |
温度波动>±1℃ | 控制器标定/传感器偏移 | 每月校准温控系统? |
?设备维护规范?建议
每日:清洁内腔残留物(使用无尘布+异丙醇)?
每月:更换氮气过滤器,
每年:校准氧浓度传感器?
?操作防护?
必须佩戴耐高温手套(接触150℃以上部件)?
开门前确认氧浓度>18%(防止氮气窒息风险)?
?紧急处置?
温度失控:立即关闭加热电源,保持氮气流通散热?
氮气泄漏:启动排风系统,人员撤离至通风区域?